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ICP法测试塑料中CdCrHgPb
东南科仪 2025/09/26 | 阅读:860
产品配置单: 方案详情:
所用设备 仪器:CTX(5Kg负载单元) 附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39) 软件:Texture Pro软件
测试类型:Compression压缩 测前速度:0.5 mm/s 测试速度:1.0 mm/s 测后速度:4.5 mm/s 目标类型:Distance 目标距离:2 mm 触发负载:5 g 如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图,显示了面饼的硬度,脆性等指标。
图1:粉饼穿刺测试曲线图(负载/时间)
硬度:测试过程中峰值最大力值; 第一断裂衰减:代表产品脆性的层次性,衰减越大说明脆性的层次感越弱; 断裂性:产品发生第一次断裂的力值,力值越大说明越不容易断裂。 测试结果如下:
通过图1可知,当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前,应力一直处于上升的趋势;到达破裂点时,图中显示第一个应力峰值;穿透表面后,测量的力值稳步增加,直到测量到第二个峰值,峰值越大,说明粉末的致密程度越高。 相关产品 更多
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